사회
“반도체 미세 발열, 실시간으로 본다”…DGIST, 세계 두 번째 열반사 분석 장비 상용화
뉴스보이
2026.04.27. 08:56
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간단 요약
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미국에 이어 세계 두 번째로, 반도체 미세 발열을 가시광선 기반 열반사 기술로 실시간 관측합니다.
기존 한계를 넘어 반도체 내부 발열 위치와 열 전파를 직접 시각화하여 분석합니다.
이 기사는 8개 언론사의 보도를 교차 검증하여 작성되었습니다.
이 기사는 8개 언론사의 보도를 교차 검증하여 작성되었습니다.
대구경북과학기술원(DGIST) 반도체AX연구단 이현준 책임연구원이 국내 최대 규모의 ICT 전시회인 ‘월드 IT쇼 2026’에서 과학기술정보통신부 장관 표창을 수상했습니다.
이현준 책임연구원은 나노스코프시스템즈와 공동으로 반도체 미세 구조의 발열을 정밀하게 관측할 수 있는 첨단 분석 장비를 개발하고 사업화에 성공했습니다. 이는 미국에 이어 전 세계 두 번째이자 국내에서는 유일한 제품화 사례입니다.
최근 반도체 소자의 정보 처리 고속화와 집적도 증가로 발열 문제가 핵심 과제로 떠올랐습니다. 연구팀은 기존 적외선 카메라의 한계를 넘어 가시광선 영역의 빛 반사율 변화를 감지하는 열반사 기반 기술을 도입하여 고해상도 열 영상을 실시간으로 관측하는 장비를 국산화했습니다.
이현준 책임연구원은 “기존에는 확인할 수 없었던 반도체 내부의 미세 발열 위치와 열 전파 과정을 직접 시각적으로 관측할 수 있는 기술을 확보했습니다”라고 밝혔습니다. 이 성과는 반도체 분석 분야의 기술 자립과 국가 산업 경쟁력 강화에 크게 기여할 것으로 평가됩니다.
이 콘텐츠는 뉴스보이의 AI 저널리즘 엔진으로 생성 되었으며, 중립성과 사실성을 준수합니다. AI가 작성한 초안을 바탕으로 뉴스보이 에디터들이 최종검수하였습니다. (오류신고 : support@curved-road.com)
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